שינויים
/* מערכת הניסוי */
בחלק האיכותי של הניסוי נבחן את תהליכי המעבר של תנודות מאולצות ומרוסנות במעגל-<math>RLC</math> על מסך האוסצילוסקופ. לשם כך נאפנן את המתח החיצוני באות ריבועי בתדירות גבוהה, לכן על הנגד הקטן <math>R_1</math> נוצר באופן מחזורי מתח בתדירות גבוהה. בנוסף ל-<math>R_1</math> מחברים בטור: סליל <math>L</math>, קבל <math>C</math>, נגד משתנה <math>R</math> ונגד קטן <math>R_2</math>. המתח מהמתנד משמש כמקור מתח חיצוני, והמתח הנוצר על הנגד <math>R_2</math> פרופורציוני לזרם במעגל.
אם מודדים את המתח על נגדים <math>R_1</math> ו- <math>R_2</math> באמצעות הסקופ, ניתן לקבל במקביל את התלות בזמן של הכא"מ החיצוני מהמתנד ואת הזרם במעגל.
[[קובץ: מערכת הניסוי RLC.png|5px|מרכז|מסגרת|איור 2 - מערכת הניסוי: חלק איכותי (1) חלק כמותי (2)]]
==מהלך הניסוי==
===חלק איכותי===
על מנת ליצור גל ריבועי משתמשים במתח אותו מספק הממשק המופעל על ידי ה-Output Signal generator . האות נכנס אל מחולל האותות (Function generator) המוציא גל סינוס. כך נבנית מודולציה ע"י איפנון משרעת AM.
אפנון זה מאפשר לנו לראות בסקופ התנהגות תחת כוח מאלץ (מתח חיצוני).
את תדירות הגל הריבועי יש לקבוע על <math>2000Hz</math> עם משרעת של <math>5 V</math>. מחולל האותות מוציא גל sin בתדירות בטווח <math>100 KHz</math>. יש לשים לב שמצב האפנון הוא AM.
בהתנגדות מקסימלית ומינימאלית של הנגד המשתנה, מצאו את תדירות הרזוננס של המעגל.
עשו זאת על ידי הבחנה בתכונותיהם של התנודות המתקבלות ותהליכי המעבר.
* צלמו את המתקבל בסקופ ודונו מתוצאות המתקבלות.
